GBT 5170.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)（隨機(jī)）試驗(yàn)用.pdf

GB/T 5170.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)（隨機(jī)）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)

1  范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了振動(dòng)（隨機(jī)）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)在進(jìn)行定型鑒定，首shou次檢驗(yàn)和定期檢驗(yàn)時(shí)的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)時(shí)的一般規(guī)定、檢驗(yàn)方法及檢驗(yàn)結(jié)果等內(nèi)容。

本部分適用于按GB/T2423.56和GB/T2424.25進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)（以下簡(jiǎn)稱振動(dòng)臺(tái)）基本參數(shù)的檢驗(yàn)方法。

本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

2  規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

GB/T 2423.56 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分∶試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh∶寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則（GB/T2423.56—2006，IEC 60068-2-64∶1993，IDT）

GB/T 2424.25 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分∶試驗(yàn)導(dǎo)則  地震試驗(yàn)方法GB/T5170.1—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

GB/T 5170.15  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法  振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)